2022年扫描电镜原理、方法 .pdf
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1、一、分析测试步骤开机1、接通循环水(流速1.5 2.0L/min )2、打开主电源开关。3、在主机上插入钥匙,旋至“Start ”位置。松手后钥匙自动回到“on”的位置,真空系统开始工作。4、等待 10 秒钟,打开计算机运行。5、点击桌面的开始程序。6、点击 JEOL SEM 及 JSM-5000 主菜单。7、约 20 分钟仪器自动抽高真空,真空度达到后,电子枪自动加高压,进入工作状态。8、通过计算机可以进行样品台的移动,改变放大倍数、聚焦、象散的调整,直到获得满意的图像9、对于满意的图像可以进行拍照、存盘和打印。10、若需进行能谱分析,要提前1 小时加入液氮,并使探测器进入工作状态。11、打
2、开能谱部分的计算机进行谱收集和相应的分析。12、需观察背散射电子像时,工作距离调整为15mm ,然后插入背散射电子探测器,用完后随时拔出。更换样品1、点击“HT on”, 出现“HT Ready”。2、点击“ Sample”, 再点击“ Vent ”。3、50 秒后拉出样品台, 从样品台架上取出样品台. 4、更换样品后, 关上样品室门, 再点击“ EVAC ”, 真空系统开始工作, 重复开机10.1.8 、10.1.9 。关机1、点击 EXIT, 再点击 OK , 扫描电镜窗口关闭, 回到视窗桌面上. 2、电击桌面上的Start 。3、退出视窗 , 关闭计算机 . 4、关闭控制面板上的电源开关
3、. 5、等待 15 分钟后关掉循环水.6、关掉总电源. 二. 方法原理1、扫描电镜近况及其进展扫描电子显微镜的设计思想和工作原理,早在 1935 年已经被提出来了,直到 1956 年才开始生产商品扫描电镜。商品扫描电镜的分辨率从第一台的25nm提高到现在的0.8nm,已经接近于透射电镜的分辨率,现在大多数扫描电镜都能同X 射线波谱仪、X 射线能谱仪和自动图像分析仪等组合, 使得它是一种对表面微观世界能够进行全面分析的多功能的电子光学仪器。数十年来,扫描电镜已广泛地应用在材料学、冶金学、地矿学、生物学、医学以及地质勘探,机械制造、 生产工艺控制、 产品质量控制等学科和领域中,促进了各有关学科的发
4、展。名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 1 页,共 4 页 - - - - - - - - - 随着纳米材料的出现,原有的钨灯丝扫描电镜由于分辨率低,不能满足纳米材料分析检测的要求,之后,电镜生产厂家推出了场发射扫描电子显微镜,使扫描电镜的分辨率提高到了0.8nm。场发射扫描电子显微镜又分为冷场场发射扫描电子显微镜和热场场发射扫描电子显微镜, 它们的共性是分辨率高。热场发射扫描电镜的束流大且稳定,适合进行能谱分析,但维护成本和要求高;冷场发射扫描电镜的束流小且不稳定,适合
5、于做表面形貌观察,不适合能谱分析,相对而言维护成本和要求要低一些。环境扫描电镜的特点是对于生物样品、含水样品、含油样品,既不需要脱水,也不必进行导电处理,可在自然的状态下直接观察二次电子图像并分析元素成分。2、扫描电镜的特点2.1 能够直接观察样品表面的微观结构,样品制备过程简单,对样品的形状没有任何限制,粗糙表面也可以直接观察;2.2 样品在样品室中可动的自由度非常大,可以作三度空间的平移和旋转,这对观察不规则形状样品的各个区域细节带来了方便;2.3 图象富有立体感。扫描电镜的景深是光学显微镜的数百倍,是透射电镜的数十倍,故所得到的图象立体感比较强;2.4 放大倍数范围大,从几倍到几十万倍连
6、续可调。分辨率也比较高,介于光学显微镜和透射电镜之间;2.5 电子束对样品的损伤与污染程度小。由于扫描电镜电子束束流小,且不是固定一点照射样品表面,而是以光栅扫描方式照射样品,所以对样品的损伤与污染程度比较小;2.6 在观察样品微观形貌的同时,还可以利用从样品发出的其它物理信号作相应的分析,如微区成分分析。如果在样品室内安装加热、冷却、弯曲、拉伸等附件,则可以观察相变、断裂等动态的变化过程。3、扫描电镜成像原理从电子枪阴极发出的电子束,经聚光镜及物镜会聚成极细的电子束(0.00025 微米 -25微米) ,在扫描线圈的作用下,电子束在样品表面作扫描,激发出二次电子和背散射电子等信号,被二次电子
7、检测器或背散射电子检测器接收处理后在显象管上形成衬度图象。二次电子像和背反射电子反映样品表面微观形貌特征。而利用特征X射线则可以分析样品微区化学成分。扫描电镜成像原理与闭路电视非常相似,显像管上图像的形成是靠信息的传送完成的。电子束在样品表面逐点逐行扫描,依次记录每个点的二次电子、背散射电子或X射线等信号强度,经放大后调制显像管上对应位置的光点亮度,扫描发生器所产生的同一信号又被用于驱动显像管电子束实现同步扫描,样品表面与显像管上图像保持逐点逐行一一对应的几何关系。因此,扫描电子图像所包含的信息能很好地反映样品的表面形貌。4、 X 射线能谱分析原理 X射线能谱定性分析的理论基础是Moseley
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