平均晶粒度的测定优秀PPT.ppt
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1、Part 5 平均晶粒度的测定-Kasberg5.1 简介固体物质通常以小颗粒状态存在、而这些小颗粒往往由很多细小的单晶体聚集而成。这些小单晶称为物质的一次聚集态、小颗粒则称为二次聚集态,平均晶粒度就是指的一次聚集态晶粒的大小。利用晶粒对X射线衍射峰的宽化影响,我们可以大致估算晶粒的平均大小。当然,由于仪器误差的存在,晶粒大小超过50nm时就会产生明显的误差,超过100nm则基本上不能用这种方法计算。5.2 5.2 晶粒宽化效应:晶粒宽化效应:志向化状况:无散射、背景可忽视,仪器精度足够高(连续扫描时步长志向化状况:无散射、背景可忽视,仪器精度足够高(连续扫描时步长能达到微小),无能达到微小)
2、,无K2K2射线衍射,晶粒半径射线衍射,晶粒半径D D趋向于无穷大,这个时候趋向于无穷大,这个时候 ,X X射线的衍射图样就应当跟射线的衍射图样就应当跟ICDDICDD给出的给出的PDFPDF标准谱线卡一样。然而实际标准谱线卡一样。然而实际谱图却是由一个个峰形组成。人们在试验过程中发觉,研磨到确定程度谱图却是由一个个峰形组成。人们在试验过程中发觉,研磨到确定程度的样品的射峰变宽的样品的射峰变宽5.3衍射峰宽化的缘由衍射峰宽化的缘由衍射峰的宽化由两部分缘由造成的衍射峰的宽化由两部分缘由造成的由仪器和试验条件造成的缘由:仪器的单色性、狭缝系统、试样形态、由仪器和试验条件造成的缘由:仪器的单色性、狭
3、缝系统、试样形态、试样穿透性、样品和仪器系统的散射(拉曼散射、热漫散射、等等)试样穿透性、样品和仪器系统的散射(拉曼散射、热漫散射、等等)称之为仪器宽化。仪器宽化造成的衍射线宽化随称之为仪器宽化。仪器宽化造成的衍射线宽化随2theta增大而增大,增大而增大,是是2theta的平滑函数,可以通过标样测得。的平滑函数,可以通过标样测得。晶体结构造成的缘由:从下面的衍射理论探讨可知,晶粒尺寸越大,晶体结构造成的缘由:从下面的衍射理论探讨可知,晶粒尺寸越大,相干衍射的区域越大、衍射峰宽就越小。晶粒尺寸造成的峰展宽称之相干衍射的区域越大、衍射峰宽就越小。晶粒尺寸造成的峰展宽称之为晶粒宽化。另外晶体假如有
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