质子X射线荧光分析.pptx
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1、3.1.引言:1.粒子诱发x射线荧光分析(PIXE)是粒子束分析的一个重要分支。2.其开创者是Sven A.E.Johansson等人1,于1970年首次开展这方面的工作,并为人们所重视,且日益广泛的被大家采用。1 Nuclear Instruments and Methods in Physics Research,84(1970)P141第1页/共20页3.1.引言:3.PIXE分析具有灵敏、快速、取样少和无损 分析等特点。4.该方法对大多数元素(Z12)是很灵敏的 其相对灵敏度为PPm(即百万分之一)量级,可检测的元素含量的下限为10-16g。第2页/共20页3.2.PIXE分析原理:粒
2、子束与原子相互作用的物理图像。KLM X-ray(Auger e-)粒子束Electron靶原子第3页/共20页3.2.PIXE分析原理:MLK1S1/22P3/22P1/22S1/23d5/23d3/22P3/22P1/22S1/2L线系K线系特征X射线能级图解跃迁定则:l=1j=0,1第4页/共20页3.3.PIXE分析实验设备:束流准直器靶靶室入射束流吸收片准直光栏Si(Li)探测器束流积分仪主放高压多道分析器液氮容器加速器第5页/共20页3.4.PIXE定量分析方法1.薄靶绝对测量特征X射线的计数阿佛加德罗常数入射粒子个数探测器对特征X射线的探测效率原子序数待测元素的重量X射线产生截面
3、探测器所张的立体角第6页/共20页相对测量3.4.PIXE定量分析方法相对测量方法是在相同的条件下,分别测量标准和样品中待测元素的表征X射线的强度,这样就可以避免、等因子中的系统误差和x的不确定性。待测元素的峰计数标准元素的峰计数待测元素的重量标准元素的重量第7页/共20页3.4.PIXE定量分析方法单标准测量法以单个标准来标定其他多种元素,在应用中是比较方便的。引入相对灵敏度因子:推导出:第8页/共20页3.4.PIXE定量分析方法2.厚靶1,2,3.ix粒子束图例:厚靶样品示意图第9页/共20页3.4.PIXE定量分析方法待测元素特征X射线峰的计数Nx为:为待测元素的相对含量为待测样品的密
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